Udział Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej w programie
Polska Metrologia (wyniki konkursu)

W dniu 7.06.2022r. zostały opublikowane wyniki I konkursu programu „Polska Metrologia”. Wśród 26 projektów zakwalifikowanych do finansowania znalazły się trzy projekty złożone przez przedstawicieli Komitetu Metrologii i AN PAN. Są to:

  1. Metodyka oceny przydatności wybranych przepływomierzy zwężkowych do pomiarów dwufazowych ciecz-gaz,
  2. Przygotowanie zabezpieczenia metrologicznego dla wprowadzenia do stosowania w Polsce systemów WIM działających w trybie „direct mass enforcement” (e-WIM),
  3. Innowacyjna technika pomiarowa wspomagana algorytmami cyfrowego przetwarzania danych na rzecz ulepszonych procesów i produktów.

Autorom zakwalifikowanych projektów serdecznie gratulujemy.

 

Udział Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej w programie
Polska Metrologia

 

Program Polska Metrologia został ustanowiony w listopadzie 2021 roku. Jego celem jest wspieranie prowadzenia przez podmioty systemu szkolnictwa wyższego i nauki, we współpracy z Prezesem Głównego Urzędu Miar, badań naukowych lub prac rozwojowych w obszarach związanych z metrologią. Szczegóły są dostępne na stronie https://www.gov.pl/web/edukacja-i-nauka/polska-metrologia

W pierwszym konkursie członkowie Komitetu Metrologii i AN PAN złożyli sześć wniosków projektowych. Przedstawione wnioski dotyczą rozwoju wzorców, metod i technik pomiarowych w procesie wytwórczym, rozwoju bezprzewodowych systemów pomiarowych, przygotowania zaplecza metrologicznego dla nowych metod i technik pomiarowych, stosowanych w zakresie kontroli administracyjnej procesów gospodarczych.

Przedstawione wnioski uzyskały wstępną aprobatę Prezesa Głównego Urzędu Miar, a następnie były oceniane przez komisję konkursową. Wszystkie wnioski pozytywnie przeszły przez tę ocenę uzyskując od 70 – 94 punktów w skali 100 punktowej. Obecnie oczekujemy na decyzję o przyznaniu środków finansowych na ich realizację.

 

Prof. Janusz Mroczka Doktorem Honoris Causa AGH w Krakowie

 

W dniu 8 grudnia 2021 r. o godz. 12.00 w Akademii Górniczo-Hutniczej imienia Stanisława Staszica w Krakowie (AGH) odbyła się uroczystość nadania godności Doktora Honoris Causa AGH prof. Januszowi Mroczce. Profesor jest wybitnym metrologiem, twórcą polskiej szkoły metrologii elektronicznej i fotonicznej, członkiem rzeczywistym Polskiej Akademii Nauk, a także członkiem Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN.

Prof. dr hab. inż. Janusz Mroczka, członek rzeczywisty Polskiej Akademii Nauk, urodził się 27 kwietnia 1952 r. w Dębicy. Studia wyższe ukończył w roku 1976 na Politechnice Wrocławskiej, z którą związany jest zawodowo do dziś. W 1980 r. obronił pracę doktorską, a w 1991 r. uzyskał stopień doktora habilitowanego. Tytuł naukowy profesora uzyskał w roku 1996. W 2021 r. Politechnika Wrocławska nadała mu status Professor Magnus.

Profesor jest Doktorem Honoris Causa Politechniki Lubelskiej (2014), Politechniki Opolskiej (2017), Politechniki Gdańskiej (2019) oraz Wojskowej Akademii Technicznej im. Jarosława Dąbrowskiego (2019).

 

 

Współpraca pomiędzy Komitetem Metrologii i Aparatury Naukowej PAN
i Głównym Urzędem Miar

 

W dniu 28 października 2021 roku odbyło się plenarne zebranie Komitetu Metrologii. Na zaproszenie Przewodniczącego Komitetu udział w tym zebraniu wziął Prezes Głównego Urzędu Miar prof. Jacek Semaniak.

Prezes Jacek Semaniak przedstawił najnowsze informacje nt. zmian zachodzących w Głównym Urzędzie Miar (GUM). W szczególności przedstawił aktualny stan zaawansowania prac nad budową kampusu laboratoryjnego w Kielcach. Omówił główne kierunki badań jakie powinny być podejmowane w celu rozbudowy potencjału naukowego Urzędu. Zwrócił również uwagę na konieczność kształcenia kadr dla nowopowstającego kampusu laboratoryjnego.

W drugiej części swojego wystąpienia Prezes Jacek Semaniak przekazał członkom Komitetu informację o utworzonej Unii Metrologicznej (http://www.pollub.pl/pl/news/get/id/10584 ), celach jej utworzenia oraz o realizowanej w ramach Unii formie współpracy naukowej pomiędzy GUM i jednostkami naukowymi. Szczególnie interesująca jest możliwość badań naukowych podejmowanych przez konsorcja GUM – jednostka naukowa, które mogą być finansowane w ramach Unii Metrologicznej. Ważną rolę w tworzeniu takich konsorcjów mogą pełnić członkowie Komitetu. Działanie takie jest zgodne z misją Komitetu mówiącą o podejmowaniu działań na rzecz integracji krajowego środowiska metrologicznego.

Zostało zapowiedziane spotkanie, którego organizatorem będzie Główny Urząd Miar. Spotkanie będzie miało charakter otwarty i będzie poświęcone aplikowaniu o projekty badawcze finansowane w ramach Unii Metrologicznej.

 

 

I Krajowa Konferencja Metrologii 2021

W dniach 25-27 maja 2021 odbyła się pod patronatem Komitetu Mtrologii i Aparatury Naukowej PAN, w formie zdalnej,  I Krajowa Konferencja Metrologii. Sprawozdanie z przebiegu tej Konferencji dostępne jest pod linkiem: KKM 2021. Zdjęcia z tego wydarzenia dostępne są w Galerii.

 

Informator o działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN w kadencji 2020-2023

Publikacja zawierająca szczegółowe informacje o członkach Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN oraz działalności Komitetu w bieżącej kadencji jest już dostępna (Informator).

 

 

Wynik oceny działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej

W 2018 roku została przeprowadzona ocena działalności komitetów naukowych afiliowanych przy Wydziale IV PAN, za lata 2016 – 2017. Ocena została przeprowadzona zgodnie z kryteriami przyjętymi przez Radę Kuratorów Wydziału, które umożliwiały liczbowe przedstawienie oceny w skali 0 – 100pkt. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej otrzymał 93pkt.

 

 

Metrology and Measurement Systems
nowy Impact Factor

Kwartalnik Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN Metrology and Measurement Systems znajduje się w grupie A czasopism, z liczbą punktów 20. Impact factor obowiązujący za rok 2017 r. wynosi 1,523 (pięcioletni IF=1.227). Więcej informacji o czasopiśmie jest dostępnych na stronie internetowej znajdującej się pod adresem: http://www.metrology.pg.gda.pl/.

 

 

Nowa Ekspertyza

 

"Stan nauczania metrologii i przedmiotów pokrewnych na wyższych uczelniach technicznych w Polsce" (Ekspertyza 3) - grudzień 2017

 

 

Metrology and Measurement Systems
nowy Impact Factor

Kwartalnik Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN Metrology and Measurement Systems znajduje się w grupie A czasopism, z liczbą punktów 20. Impact factor obowiązujący w 2017 r. wynosi 1,598. Więcej informacji o czasopiśmie jest dostępnych na stronie internetowej znajdującej się pod adresem: http://www.metrology.pg.gda.pl/.

 

Informator o działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN w kadencji 2016-2020

Publikacja zawierająca szczegółowe informacje o członkach Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN oraz działalności Komitetu w bieżącej kadencji oraz wykonanych dotąd ekspertyzach jest już dostępna (Informator).


Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN najlepszym komitetem

Więcej w listopadowym numerze Panoramy PAN - str. 2-5.

 

 Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej - tom 7

Ukazał się 7 tom serii wydawniczej Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej pod redakcją J. Mroczki (278 stron, http://www.oficyna.pwr.wroc.pl).

 

Informator o działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN w kadencji 2010-2014

Publikacja zawierająca szczegółowe informacje o członkach Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN oraz działalności Komitetu w bieżącej kadencji oraz wykonanych ekspertyzach jest już dostępna (niska rozdzielczość - 14 MBwysoka rozdzielczość - 200 MB).

 

Metrology and Measurement Systems
w grupie A na ministerialnej liście czasopism punktowanych

Uprzejmie informujemy, że na stronie www.czasopismapunktowane.pl znajduje się wykaz czasopism naukowych wraz z informacją o liczbie punktów przyznanych czasopismu. Kwartalnik Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN Metrology and Measurement Systems znajduje się w grupie A z liczbą punktów 15. Impact factor obowiązujący w 2015 r. wynosi 0,925. Więcej informacji o czasopiśmie jest dostępnych na stronie internetowej znajdującej się pod adresem: http://www.metrology.pg.gda.pl/.

 

Ekspertyzy Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN

Zakończone zostały prace nad ekspertyzami:
• „Stan i perspektywy metrologii jako interdyscypliny naukowej (w skali globalnej)” (Ekspertyza 1)
• „Strategia instytucjonalnego rozwoju metrologii w Polsce” (Ekspertyza 2).
Ekspertyzy zostały opublikowane w „Informatorze o działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN w kadencji 2016-2020” (Informator).

 

Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej - tom 6

Ukazał się 6 tom serii wydawniczej Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej pod redakcją J. Mroczki (212 stron, http://www.oficyna.pwr.wroc.pl).