Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej

Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej jest komitetem naukowym działającym przy Wydziale IV Nauk Technicznych Polskiej Akademii Nauk. Komitet został powołany po raz pierwszy w roku 1968. Pierwotnie funkcjonował pod nazwą Komitet Metrologii. W roku 1972 nastąpiło połączenie Komitetu Metrologii z Komitetem Danych dla Nauki i Techniki. Wówczas przyjęto obecną nazwę Komitetu.

O komitecie

Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauk (KMiAN PAN), zwany dalej „Komitetem”, został powołany Uchwałą Prezydium Polskiej Akademii Nauk nr 2/2011 z dnia 26 maja 2011 r. jako komitet naukowy działający przy Wydziale IV Nauk Technicznych Polskiej Akademii Nauk. Zakres działania Komitetu obejmuje szeroko pojętą metrologię, integrując wszystkie teorie i techniki pomiarowe, niezależnie od dziedziny ich zastosowań. Zadania Komitetu obejmują podejmowanie wszelkich działań mających na celu rozwój metrologii i wykorzystanie jej osiągnięć dla dobra kraju. W szczególności zakres działania Komitetu obejmuje opracowywanie i analizę metod pomiarowych; pozyskiwanie, przetwarzanie i interpretację ilościowych informacji o zjawiskach elektrycznych i nieelektrycznych (optycznych, mechanicznych, fizykochemicznych, cieplnych i innych); ocenę błędów i niepewności pomiarowych. Podstawowe kierunki badań: metody dedukcyjne i indukcyjne w matematycznym modelowaniu pól fizycznych, eksperymentalna ocena modeli pomiarowych, sensorów (inteligentnych, optoelektronicznych, sieci sensorowych i innych), fuzja danych, cyfrowe przetwarzanie danych i sygnałów, algorytmizacja problemu odwrotnego, mikro i nano-systemy pomiarowe, telemetria, pomiary biomedyczne, pomiary parametrów energii elektrycznej i procesów technologicznych, monitoring środowiska.

Członkowie

Wydawnictwa Komitetu

Metrology and Measurement Systems jest recenzowanym czasopismem międzynarodowym, wydawanym przez Polską Akademię Nauk (PAN) od 1988 roku. Od 2001 roku ukazuje się w języku angielskim, a od 2024 roku czasopismo wydawane jest wyłącznie w formie elektronicznej na platformie Biblioteki Elektronicznej PAN. Czasopisma jest kwartalnikiem, w którym publikowane są oryginalne prace dotyczące badań, rozwoju i zastosowań metrologii (ang. measurement science and technology). Działa w oparciu o diamentowy model otwartego dostępu, w którym autorzy nie ponoszą żadnych opłat za publikację, a artykuły udostępniane są w otwartym dostępie na warunkach licencji Creative Commons.

Czasopismo jest indeksowane w najważniejszych bazach naukowych takich jak: Journal Citation Reports, Web of Science Master Journal List (Clarivate Analytics dawniej Thomson Reuters), INSPEC, Scopus, Index Copernicus, Google Scholar, CSA Technology Research, High Tech Research Database, Solid State & Superconductivity.

  • Impact Factor za rok 2023: 1
  • 5-letni współczynnik wpływu: 1
  • Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego: 100 punktów

Tematyka publikowanych prac obejmuje: teorię, ogólne zasady i zastosowania pomiaru; pomiar wielkości fizycznych, chemicznych i biologicznych; pomiary medyczne; czujniki i przetworniki; pozyskiwanie danych pomiarowych; transmisja sygnału pomiarowego; przetwarzanie i analiza danych; systemy pomiarowe i systemy wbudowane; projektowanie, wytwarzanie i ocena aparatury pomiarowej. Prace nadsyłane do publikacji w czasopiśmie powinny podkreślać nowatorstwo prezentowanych metod i/lub technik oraz wykazywać ich poprawność i efektywność poprzez badania eksperymentalne, rzetelne symulacje lub przykłady numeryczne. Artykuły bezpośrednio dotyczące procesu pomiarowego powinny zawierać adekwatną analizę niepewności pomiaru.

Zgłoszenia artykułów

Metrology and Measurement Systems przyjmuje zgłoszenia następujących rodzajów artykułów:

  • zapraszane artykuły specjalne lub przeglądowe prezentujące aktualny stan wiedzy z zakresu czasopisma (około 20 stron redagowanych po około 3000 znaków każda),
  • prace badawcze opisujące wysokiej jakości oryginalne osiągnięcia naukowe lub technologiczne (maks. 12 stron),
  • artykuły oparte na rozszerzonych i aktualizowanych doniesieniach prezentowanych na konferencjach naukowych (maks. 12 stron),
  • krótkie notatki, tj. recenzje książek, sprawozdania z konferencji, krótkie aktualności (maks. 2 strony).

Szczegółowe informacje o czasopiśmie znajdują się na stronie internetowej: https://metrology.wat.edu.pl

Siedzibą redakcji czasopisma jest Wydział Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej w Warszawie.

-

Formularz kontaktowy

    Zapisując się na wydarzenie wyrażasz zgodę na przetwarzanie swoich danych osobowych