IV Posiedzenie plenarne Komitetu

W dniu 16 października 2025 r. w Pałacu Staszica w Warszawie odbyło się IV plenarne posiedzenie Komitetu. W trakcie posiedzenia został wygłoszony przez prof. dr. hab. inż. Jarosława Domaradzkiego z Politechniki Wrocławskiej wykład pt. Technologie cienkowarstwowe – znaczenie, osiągnięcia i wymogi metrologiczne. W trakcie posiedzenia podjęto uchwałę w sprawie ustalenia terminów zebrań plenarnych Komitetu oraz uchwałę ustalającą regulamin przyznawania Nagrody Komitetu Metrologii i Aparatury. Komitet wysłuchał również sprawozdania dotyczącego stanu przygotowań do organizacji X Kongresu Metrologii, który odbędzie się w maju 2026 r. w Jastarni.