Obrady II Krajowej Konferencji Metrologii

W dniach 26-29 maja 2025 r. odbyła się II Krajowa Konferencji Metrologii – KKM2025 zorganizowana przez Instytut Systemów Elektronicznych Wydziału Elektroniki WAT oraz Wojskowe Centrum Metrologii. KKM pomyślane jest jako wydarzenie odbywające się w cyklu 3-letnim pomiędzy kolejnymi Kongresami Metrologii. Konferencja została objęta patronatem Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej na mocy Uchwały z dnia 18 września 2024 r., a w ceremonii jej otwarcia wziął udział Przewodniczący Komitetu – prof. dr hab. inż. Andrzej Zając. W Konferencji uczestniczyło 81 osób pochodzących z 16 krajowych jednostek naukowych, uczelnianych i wojskowych, w tym 7 Członków Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej. Członkowie Komitetu stanowili trzon Komitetu Naukowego Konferencji. W tegorocznej edycji tradycyjną część szkolną zorganizowano pod tytułem „Sztuczna inteligencja w technice pomiarowej”. W jej ramach wygłoszonych zostało 7 wykładów. Oprócz tego odbyło się 5 tematycznych sesji werbalnych, sesja plakatowa oraz panel sponsorów. Szczegóły są dostępne na stronie internetowej Konferencji https://kkm.wel.wat.edu.pl/historia-konferencji.html