Posiedzenie Prezydium Komitetu

W dniu 27 maja 2025 r. w trakcie obrad II Krajowej Konferencji Metrologii zorganizowanej w ośrodku wypoczynkowym AMW Rewita w Waplewie k. Olsztynka odbyło się wyjazdowe posiedzenie Prezydium Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN. W trakcie posiedzenia Przewodniczący Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej wręczył  dr. inż. Dominikowi Sondejowi z Wojskowej Akademii Technicznej nominację na funkcję Zastępcy Redaktora Naczelnego czasopisma Metrology and Measurement Systems, przyznaną na wniosek Redaktora Naczelnego – prof. Ryszarda Szpleta. W dalszej części zebrania  zaprezentowano i omówiono m.in. wnioski wypływające z  Decyzji Prezesa Polskiej Akademii Nauk nr 18/2025 z dnia 15 kwietnia 2025 r. w sprawie wprowadzenia Regulaminu dla podmiotów ubiegających się o patronat honorowy Prezesa Polskiej Akademii Nauk, oddziału Polskiej Akademii Nauk, wydziału Polskiej Akademii Nauk oraz komitetu Polskiej Akademii Nauk.