Obszary kompetencji członków Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN:

 

  1. Dr hab. inż. Grzegorz BLAKIEWICZ

  2. Dr hab. inż. Józef BORKOWSKI

  3. Dr hab. Ryszard BRODA - pomiary aktywności radionuklidów, promieniowanie jonizujące

  4. Dr hab. inż. Sławomir CIĘSZCZYK - czujniki światłowodowe FBG oraz TFBG, spektroskopia FTIR, analiza
                                                                 sygnałów i danych z czujników, analiza widm optycznych,

  5. Prof. dr hab. Dominik DOROSZ    

  6. Prof. dr hab. inż. Janusz GAJDA - dynamiczne ważenie pojazdów, systemy Weigh-In-Motion (WIM),
                                                             identyfikacja systemów

  7. Dr hab. inż. Robert HANUS - analiza sygnałów losowych, estymacja czasu opóźnienia,
                                                     badania przepływów dwufazowych metodami radioizotopowymi

  8. Prof. dr hab. inż. Oleksandra HOTRA

  9. Dr hab. inż. Ireneusz JABŁOŃSKI - system złożony, pomiary pośrednie, czujniki, metody sztucznej
                                                          inteligencji, przetwarzanie danych

 10. Prof. dr hab. Agnieszka IWAN - organiczne/Perowskitowe ogniwa słoneczne, ładowarki słoneczne,
                                                  biodegradowalne podłoża przewodzace

 11. Dr hab. inż. Jacek JAKUBOWSKI - cyfrowe przetwarzanie sygnałów i obrazów w metrologii,
                                                                biometrii i inżynierii biomedycznej

 12. Dr hab. inż. Agata JASIK - fotodetekcja IR, nanotechnologia półprzewodnikowa

 13. Dr hab. inż. Waldemar JENDERNALIK

 14. Prof. dr hab. inż. Marian KAŹMIERKOWSKI

 15. Prof. dr hab. inż. Piotr KISAŁA - światłowodowe czujniki temperatury, naprężenia i współczynnika
                                                           załamania światła, czujniki światłowodowe dla energetyki

 16. Dr hab. inż. Marcin KOCHANOWICZ - szkła, technologia światłowodów, spektroskopia optyczna, luminescencja

 17. Płk. dr hab. inż. Krzysztof KOPCZYŃSKI, prof. WAT

 18. Dr hab. inż. Anna KOZŁOWSKA

 19. Dr hab. inż. Monika KWOKA

 20. Dr hab. inż. Wiesław MICZULSKI

 21. Prof. dr hab. inż. Janusz MROCZKA

 22. Dr hab. inż. Joanna PAWŁAT - parametry plazmy nietermicznej, systemy plazmowe, właściwości materiałów
                                                        po obróbce plazmowej

 23. Dr hab. inż. Adam POLAK - modelowanie systemów, pomiary pośrednie, problem odwrotny, przetwarzanie
                                                    sygnałów biomedycznych

 24. Dr hab. inż. Małgorzata PONIATOWSKA - pomiary i analiza struktury geometrycznej powierzchni,
                                                                           pomiary współrzędnościowe

 25. Prof. dr hab. inż. Antoni ROGALSKI

 26. Dr hab. inż. Jarosław SIKORA

 27. Dr hab. inż. Agata SKWAREK

 28. Dr hab. inż. Ryszard SROKA - systemy WIM, ważenie pojazdów w ruchu, fuzja danych pomiarowych

 29. Prof. dr hab. inż. Jan SZCZYGŁOWSKI

 30. Dr. hab. inż. Mirosław SZMAJDA

 31. Prof dr hab. inż. Ryszard SZPLET - precyzyjna metrologia czasu, układy i systemy cyfrowe, mikroelektronika

 32. Dr hab. inż. Grzegorz ŚWIRNIAK - modelowanie i analiza pól optycznych, metrologia optyczna

 33. Dr hab. inż. Dariusz ŚWISULSKI - miernictwo przemysłowe, czujniki pomiarowe, oprogramowanie
                                                              systemów pomiarowych

 34. Płk. mgr inż. Robert TARGOS

 35. Prof. dr hab. inż. Elżbieta TRAFNY

 36. Prof. dr hab. inż. Przemysław WACHULAK - plazma, promieniowanie X i laserowe, oddziaływanie z materią,
                                                                              spektroskopia, optyka, nanotechnologia

 37. Dr hab. inż. Jacek WOJTAS - optoelektroniczne czujniki gazów, laserowa spektroskopia absorpcyjna

 38. Prof. dr hab. inż. Wiesław WOLIŃSKI

 39. Prof. dr hab. inż. Andrzej ZAJĄC

 40. Dr hab. inż. Jarosław ZYGARLICKI
     

 

Tematy ekspertyz oferowanych do wykonania przez członków Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej:

 

Członkowie Komitetu deklarują gotowość do wykonania ekspertyz dotyczących poniższych zagadnień:

  1. Pomiary jakości energii elektrycznej oraz rejestracja i analiza przebiegów prądowych oraz napięciowych w sieciach niskiego napięcia,
  2. Badanie wpływu jakości zasilania na pracę urządzeń elektrycznych niskiego napięcia,
  3. Badanie liczników energii elektrycznej,
  4. Statystyczna analiza danych pomiarowych sygnałów elektrycznych oraz biomedycznych,
  5. Badanie wpływu mikroklimatu na pracę urządzeń elektrycznych,
  6. Uwarunkowania formalne oraz techniczne wprowadzenia w Polsce administracyjnych systemów dynamicznego ważenia pojazdów samochodowych.