Metrology and Measurement Systems

Metrology and Measurement Systems jest czasopismem o zasięgu międzynarodowym, publikowanym kwartalnie od 1988; od 2001 pojawia się w języku angielskim. Jego zakres tematyczny obejmuje wszystkie aspekty nauki i techniki pomiarowej. Jest indeksowany przez Journal Citation Reports/Science, Thomson Scientific Master Journal List, INSPEC, Scopus, Index Copernicus, Google Scholar, CSA Technology Research oraz High Tech Database Research. Jego Impact Factor w roku 2015 wyniósł 0,925, w 2017 osiągnął wartość 1,523, a za rok 2020 wynosi 1.155 (pięcioletni IF=1,194). Na liście Ministerstwa Edukacji i Nauki przyznano mu 100 pkt. Więcej informacji o czasopiśmie jest dostępnych na stronie internetowej znajdującej się pod adresem: https://metrology.wat.edu.pl/.

Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej

Wydawnictwo Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej, pod redakcją J. Mroczki, jest wydawany w cyklu jeden tom rocznie. Każdy tom posiada swój własny numer ISBN. Wydawnictwo zawiera obszerne rozdziały dotyczące najważniejszych osiągnięć szkół naukowych w zakresie metrologii (zob. http://www.oficyna.pwr.wroc.pl). Ukazał się już siódmy tom serii (278 stron).