Opracowywanie i analiza metod pomiarowych; pozyskiwanie, przetwarzanie i interpretacja informacji ilościowej o zjawiskach elektrycznych i nieelektrycznych (optycznych, mechanicznych, fizykochemicznych, termicznych i innych); ocena błędów i niepewności pomiaru. Podstawowe kierunki badań: metody dedukcyjne i indukcyjne w modelowaniu matematycznym pól fizycznych, eksperymentalna ocena modeli pomiarowych, sensoryka (czujniki inteligentne, optoelektroniczne, sieci czujnikowe i inne), fuzja danych, cyfrowe przetwarzanie danych i sygnałów, algorytmizacja problemu odwrotnego, mikro- i nanosystemy pomiarowe, telemetria, pomiary biomedyczne, pomiary parametrów energii elektrycznej i procesów technologicznych, monitorowanie środowiska.

Komitet wydaje kwartalnik Metrology and Measurement Systems oraz cykl książek „Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej”. Jest organizatorem cyklicznej konferencji Kongres Metrologii.